86100D-202 增強型阻抗和 S 參數軟件快速、**地測量 S 參數：

• 完整的單端和差分 S 參數－－手冊
• **地測量回波損耗、插入損耗（衰減）、近端串擾（NEXT）、遠端串擾（FEXT）、相位和群時延
• 先進的校準技術可以消除電纜和夾具帶來的不利影響，提高測量精度
• 以標準格式或 .txt 格式導出結果；如果需要，還可通過 InfiniiSim-DCA 使用該文件對被測件進行去嵌入/嵌入

86100D-202 增強型阻抗和 S 參數軟件用于各種應用中的故障診斷和一致性測量：

• USB
• SATA/SAS
• PCI Express
• 定制的電氣設計等

86100D-202 增強型阻抗和 S 參數軟件便于新用戶使用，同時為專家提供了先進功能：

• 視頻指南――幫助臨時用戶執(zhí)行**的測量，而不會影響到**用戶
• 一鍵式測量――快速、輕松地在時域（阻抗）和頻域（S 參數）之間進行轉換
• TDR 萃取――消除多重反射帶來的不利影響

86100D-202 增強型阻抗和 S 參數軟件**的 TDR/TDT 測量：

• TDR 校準――可消除電纜和夾具帶來的不利影響
• 可調整的有效上升時間――使用與設計匹配的邊沿速度測量阻抗
• 非匹配的TDR 步進對稱――可降低測量誤差
• 快速步進（9ps 上升時間）和大于 70GHz 的帶寬――可通過皮秒脈沖實驗室邊沿加速器和 86118A 遠程采樣探頭獲得

86100D-202 增強型阻抗和 S 參數軟件**的通道驗證――輕松完成

86100D-202 增強型阻抗和 S 參數軟件補充了 86100D TDR/TDT 模式的不足，提供了一款**綜合且經過校準的實時 TDR 和 S 參數測量解決方案。

TDR/TDT 和 S 參數的用途包括：

• 信號完整性（SI）工程：縮短設計周期――在時域和頻域中**地表征單端和差分阻抗
• 一致性測量――確保您的器件符合技術指標
• 過程控制：保持印刷電路板（PCB）和無源器件制造質量的穩(wěn)定性
• 故障定位：確定短路、開路或其他中斷點的位置，維修被測件或進行深入分析以便于改進

使用 86100D DCA-X 上直觀的用戶界面，可以非常容易地設置和執(zhí)行 TDR/TDT 和 S 參數測量。

TDR 校準（不是必需的，但是我們推薦您執(zhí)行這種校準）是獲得**的 S 參數測量結果的基礎。使用 86100D-202 執(zhí)行 S 參數測量時，其測量結果與矢量網絡分析儀（VNA）的測量結果非常吻合。矢量網絡分析儀（VNA）在 S 參數測量方面是業(yè)界的標桿。

是否需要使用具有 9ps 上升時間的 TDR 邊沿和遠程采樣探頭？

86100D 用戶界面支持外部邊沿加速器和遠程采樣探頭，該探頭能夠提供在亞毫米波內區(qū)分兩個事件的分辨率和 50 GHz 的 S 參數測量。皮秒脈沖實驗室 4022 邊沿加速器和 Agilent 86118A 雙電 70 GHz 遠程探頭采樣器提供了目前市場上*快的 TDR/TDT 系統(tǒng)。

升級現有的 86100D DCA-X――訂購 86100DU-202！

如果您已經擁有 86100D DCA-X 和 54754A 差分 TDR 模塊，并且想要添加增強型阻抗和 S 參數功能，請購買 86100DU-202。